杭州傲芯科技申請用於芯片DFT的高可靠性測試向量讀取電路及方法專利，提高了測試向量的穩定性

金融界2024年11月14日消息，國家知識產權局信息顯示，杭州傲芯科技有限公司申請一項名爲“一種用於芯片DFT的高可靠性測試向量讀取電路及方法”的專利，公開號CN 118937951 A，申請日期爲2023年6月。

專利摘要顯示，本發明提供的一種用於芯片DFT的高可靠性測試向量讀取電路及方法，通過引腳複用的方式將芯片引腳的劃分爲工作模式和測試模式，且在電路中設置了模式切換模塊，模式切換模塊通過識別輸入的測試控制信號來實現兩種模式之間的切換，其中測試模式下還設有測試向量讀取模式，且將測試向量讀取模式的識別測試控制信號設置爲負電壓信號，可避免客戶在使用過程中誤觸發測試向量讀取模式。存儲模塊中採用移位讀取的方式進行測試向量的讀取和存儲，提高了測試向量的穩定性；同時還設有移位控制模塊，用於控制寄存器是否進行測試向量移位讀取功能，增強了測試向量的完整性，減小了用於芯片DFT的高可靠性測試向量讀取電路的在芯片中的佔用面積。

本文源自：金融界

作者：情報員