南京芯視元取得芯片光學特性測試設備專利，設備批量測試效率高

金融界2024年9月27日消息，國家知識產權局信息顯示，南京芯視元電子有限公司取得一項名爲“一種芯片光學特性測試設備”的專利，授權公告號CN 221764851 U，申請日期爲2024年1月。

專利摘要顯示，本申請提供一種芯片光學特性測試設備，涉及芯片檢測技術領域，包括用於承載待測芯片的載片單元，載片單元可沿待測芯片所在的平面移動；檢測單元用於朝向待測芯片出射光線，並採集待測芯片反射的調製後的光線；運動單元用於驅動載片單元和檢測單元沿預設路徑運動；控制單元分別和載片單元、檢測單元和運動單元電連接，以控制載片單元、檢測單元和運動單元，測試待測芯片的參數。設備集成度高，無需人爲改變光路即可測試所有參數，精度高，穩定性好，首次光路對準後無需再次進行調整，更換不同的待測芯片即可連續測試，批量測試效率高；設備支持多點測量，通過控制待測芯片移動，測量待測芯片表面各個區域的光學特性，方便分析比對。

本文源自：金融界

作者：情報員