鑫方卡申請一種RFID標籤的性能測試方法及系統專利，提高了RFID標籤性能測試的效率及準確性

金融界2024年10月28日消息，國家知識產權局信息顯示，深圳市鑫方卡科技有限公司申請一項名爲“一種RFID標籤的性能測試方法及系統”的專利，公開號CN 118818191 A，申請日期爲2024年7月。

專利摘要顯示，本發明涉及RFID標籤性能測試領域，尤其涉及一種RFID標籤的性能測試方法及系統，該方法包括以下步驟。獲取RFID標籤多維度信號；對RFID標籤多維度信號進行靜態信號性能評估，生成靜態性能評估數據對待測試RFID標籤進行多磁場強度環境測試，獲取磁場環境下標籤信號；對磁場環境下標籤信號進行誤讀率計算，以構建誤讀率變化曲線；基於誤讀率變化曲線對磁場環境下標籤信號進行磁場兼容性能分析，生成磁場兼容性能參數；基於預設的動態環境場景對待測試RFID標籤進行多路徑移動測試模擬，獲取實時追蹤標籤信號；基於實時追蹤標籤信號得到信號識別最大讀寫範圍及多路徑信號衰減值。本發明提高了RFID標籤性能測試的效率及準確性。

本文源自：金融界

作者：情報員