天準科技取得基於遷移學習的半導體芯片檢測技術專利，實現小樣本條件下有效地完成芯片缺陷的識別提取功能

金融界2024年6月25日消息，天眼查知識產權信息顯示，蘇州天準科技股份有限公司取得一項名爲“基於遷移學習的半導體芯片檢測方法、裝置及存儲介質“，授權公告號CN117574962B，申請日期爲2023年10月。

專利摘要顯示，本發明提供了基於遷移學習的半導體芯片檢測方法，方法包括構建封裝芯片缺陷檢測神經網絡模型及訓練封裝芯片缺陷檢測神經網絡模型。本發明提供的缺陷檢測方法，基於遷移學習融合了第一網絡模型和第二網絡模型的優點；具體地，結合了卷積神經網絡和注意力機制的優點；並基於遷移學習，先學習第一網絡模型和第二網絡模型的權重參數，在對模型進行遷移學習後重新訓練，微調網絡的權重參數，可以在小樣本的條件下有效地完成芯片缺陷的識別提取功能。

本文源自：金融界

作者：情報員