深圳創視智谷申請基於鏡面反射多層面同攝像裝置表面缺陷檢測專利，提高檢測效率

金融界2024年11月2日消息，國家知識產權局信息顯示，深圳創視智谷科技有限公司申請一項名爲“基於鏡面反射多層面同攝像裝置表面缺陷檢測系統及方法”的專利，公開號CN 118883569 A，申請日期爲2024年8月。

專利摘要顯示，本發明公開了一種基於鏡面反射多層面同攝像裝置表面缺陷檢測系統及方法，包括用於放置待檢測物體的檢測平臺，該待檢測物體具有至少一個基準面和數量爲1個或多個不與該基準面平行的非平行面；第一反射單元圍繞待檢測物體的非平行面佈置，用於通過鏡面反射將非平行面反射成像，使得非平行面的像和所述基準面朝向同一方向；攝像裝置設置在基準面上方、下方或上下方用於從對着基準面方向對第一反射單元中非平行面的像和/或基準面進行拍照。本發明簡化了機械結構，減少了攝像裝置的使用數量，從而降低了設備成本。通過統一方向拍攝，不僅提高了檢測效率，還優化了數據傳輸和處理過程，減少了系統複雜性。

本文源自：金融界

作者：情報員