晶彩科技 推Micro LED檢量測設備

晶彩科重視研發及專利佈局，更積極佈局新顯示技術與製程領域。圖／晶彩科技提供

「2023 Touch Taiwan系列展-智慧顯示展覽會」於4月19日至21日於南港展覽館一館盛大展開。

晶彩科技提供了Micro LED、Micro OLED、FOPLP、TFT LCD、Touch Panel、電子紙、OLED等產品一系列的檢量測解決方案，其中針對Micro LED顯示器生產流程，包含Chip On Wafer/Carrier 晶粒檢量測機、Backplane Panel Pad &晶粒檢量測機以及Panel側邊導線檢量測機等三大產品主題，將於會展（攤位：L218）上提出最新技術及實際應用。

晶彩科技表示，全新系列Micro LED檢量測設備均搭載了新一代高速崁入式AI即時檢測架構，在Chip On Wafer/Carrier晶粒檢測機方面，可因應龐大數量級的晶粒缺陷檢測及巨轉後的晶粒偏移與旋轉量測；Backplane Panel Pad & 晶粒檢量測機則能針對驅動線路的短斷路、金屬Pad的缺損與異常及LED Bonding在金屬Pad後的位置偏移，進行精準的檢測與量測。

另外，Panel側邊導線檢量測機則可以對應不同切割尺寸，進行磨邊導角面及正側面掃描，提供金屬導線短斷路檢測、導線與驅動線路間的Overlay，以及線路尺寸量測監控解決方案。完整解決方案，詳洽https://www.favite.com/。