北京時代民芯科技有限公司取得一種動態可重構芯片的單粒子功能錯誤測試方法及系統專利

金融界2024年11月30日消息，國家知識產權局信息顯示，北京時代民芯科技有限公司取得一項名爲“一種動態可重構芯片的單粒子功能錯誤測試方法及系統”的專利，授權公告號 CN 113868043 B，申請日期爲 2021年8月。

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